스마트그리드 연구회

아래와 같이 스마트 그리드 연구회에서 "심사품질 UP 체크포인트를 활용한 자주 범하는 실수 유형 분석 사례" 관련 세미나가 있었습니다.

 
1. 내 용 : “심사품질 UP 체크포인트를 활용한 자주 범하는 실수 유형 분석 사례”

2. 일 시 : 2014.03.03(월) 16:00~17:00
 

3. 장 소 : 특허청(4동) 12층 1201호 회의실
 

4. 성 명 : 곽태근 심사관