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[학습세미나 공지] 심사품질 UP 체크포인트를 활용한 자주 발생하는 PCT 흠결 체크포인트 정리

글쓴이 임영훈 작성일 2014.04.07 14:28 조회수 2857 추천 0

아래와 같이 스마트 그리드 연구회에서 "심사품질 UP 체크포인트를 활용한 자주 발생하는 PCT 흠결 체크포인트 정리" 관련 세미나가 있었습니다.

 
1. 내 용 : “심사품질 UP 체크포인트를 활용한 자주 발생하는 PCT 흠결 체크포인트 정리”


2. 일 시 : 2014.03.10(월) 17:00~18:00
 

3. 장 소 : 특허청(4동) 12층 1201호 회의실
 

4. 성 명 : 추형석 심사관

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