기술동향
PDP 전극 패턴 검사장치의 기술 개요 및 특허 동향 |
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글쓴이 오제욱 2006.11.30 00:00 | 조회수 1969 0 스크랩 0 |
PDP 전극 패턴 검사장치의 기술 개요 및 특허 동향에 관한 보고서입니다.
(저자 : 특허정보원 조사분석4팀 박지훈)
출처:특허정보원
개요 : PDP의 수요는 폭발적으로 증가하고 있으며 그 추세에 발맞추어 생산원가의 절감을 위한 제조장비도 발전하고 있다. 이러한 생산원가를 절감하기 위한 방법 중 한가지는 디스플레이모듈의 불량 발생의 원인인 전극 패턴 결함을 효율적으로 검사하는 것인데, 본 보고서에서는 이러한 디스플레이 모듈의 생산 수율을 높일 수 있는 PDP 전극 패턴 검사장치의 기술개요와 특허동향에 대해 살펴본다.
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