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[세미나 자료] 선행기술 검색 품질제고 합동회의 및 미활용 원인분석(20160711)

글쓴이 이길호 작성일 2016.07.18 10:12 조회수 1818 추천 0

○ (일시) '16.07.11.(월) 15:00~17:00    

○ (장소) 특허청 중회의실

○ (인원) 과장 임호순 등 정밀부품심사과 심사관23명    

○ (발표) 곽성룡 사무관   

○ (주요내용)     

  -  미활용 원인분석 및 검색노하우 등

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