대메뉴 바로가기 본문 내용 바로가기

좌측메뉴

  • 본청 및 소속기관
  • 대변인실
  • 특허사업화담당관
  • 아이디어거래담당관
  • 특허빅데이터담당관
  • 감사담당관
  • 심사품질담당관
  • 운영지원과
  • 기획조정관
  • 산업재산정책국
  • 산업재산보호협력국
  • 정보고객지원국
  • 상표디자인심사국
  • 특허심사기획국
  • 융복합기술심사국
  • 전기통신기술심사국
  • 화학생명기술심사국
  • 기계금속기술심사국
  • 특허심판원
  • 국가지식재산연수원
  • 서울사무소



좌측 하단 배너

뷰어 다운로드

일반문서 WORD, EXCEL, HWP, PDF, PPT

특허문서 tiff 플러그인

특허고객 상담센터 1544-8080

MS WORD 뷰어 MS EXCEL 뷰어 한글과컴퓨터 오피스 뷰어 Adobe Acrobat Reader MS Power Point뷰어

컨텐츠


기계금속기술심사국 - 메인페이지: 특허청의 각 부서와 기관에 대해 자세히 안내해 드립니다.
손용욱 기계금속기술심사국장

부서장 : 손용욱 기계금속기술심사국장


전화번호 : 042-481-5533

계측기술심사팀 소개

소개

계측기술심사팀은 길이나 음파, 전자파 등 우리 주변에서 나타나는 다양한 정보를 계측하고 이를 분석하는 기술에 관한 특허 및 실용신안 심사와 기술동향조사를 수행하고 있습니다.

직원안내

Fax : 042-481-8715
계측기술심사팀 직원안내
소속/부서 직급 성명 전화번호 담당업무
계측기술심사팀 계측기술심사팀장 이기현 042-481-8458 계측기술심사팀장(심사과장)
계측기술심사팀 특허팀장 박준영 042-481-8506 [심사] IPC, G01N(광학적 재료분석) [전공분야] 물리학(분광학) [과거심사분야] IPC: H01L(반도체), H01S(레이저), G06Q(전자상거래), C23C(물리도금) 등
계측기술심사팀 특허팀장 조지은 042-481-5753 측정시스템 특허팀 특허팀장, 광센서및 광검출 장치, 광센서를 이용한 계측 관련 기술(G01J), 전기, 자기 계측장치 관련기술(G01R) 분야 심사
계측기술심사팀 특허팀장 양경식 042-481-3368 화학바이오분석 특허팀장 생물학적 재료의 화학적 분석 심사(G01N 27, G01N 33)
계측기술심사팀 심사관 김윤선 042-481-8420 유량계(G01F), 측정(G01B) 심사
계측기술심사팀 심사관 오경환 042-481-3302 G01R1/067, G01R1/073, G01R1/04
계측기술심사팀 심사관 이병수 042-481-5165 G01J, G01R
계측기술심사팀 심사관 이창호 042-481-8288 계측분야 특허심사(G01N21)
계측기술심사팀 심사관 김기환 042-481-8143 과 주무사무관 현심사분야: G01D(계측장치의 세부, 측정값을 다른 값으로 변환, 2 이상의 계측이 가능한 장치), G01H(초음파 계측), G04R(전파로 교정하는 시계), G12B(기타 장치의 세부), G99Z(분류되지 않은 것)
계측기술심사팀 심사관 오용균 042-481-8508 특실심사
첫 페이지 보기 전 페이지 보기  1 2 3 다음 페이지 보기  마지막 페이지 보기

만족도조사